検査・計測技術による省エネ機器・次世代電池半導体への貢献

検査・計測装置を通じて電子機器・産業機器の省エネルギー化を支援し、SiC・GaNパワー半導体や二次電池の性能・安全性向上に貢献するテーマ。自社が半導体・電池そのものを開発するのではなく、検査・計測を通じて関連製品の高性能化を支える点に特徴がある。