MOF（多孔性金属錯体）中の電子スピンを光で検出することを初めて実証したと発表された。ポルフィリン誘導体配位子を用いたMOFにおいて、光照射で励起した三重項スピンの光検出に成功し、ジャーナルに掲載された。
東京大学とグラスゴー大学、シェフィールド大学、埼玉大学、日本電子株式会社、神戸大学などの研究グループは、光検出磁気共鳴法（ODMR）を用いてMOF中の電子スピンの光検出を初めて実証した。
本研究では、ポルフィリン誘導体を配位子としたMOFを合成し、光によって生成する配位子由来の励起三重項スピンの検出に成功した。MOFは量子センシング材料として期待されていたが、スピンの光検出が達成されたのは初めてである。
この成果は2026年10月9日付で米国東部夏時間の公表に基づき、Journal of the American Chemical Society誌に掲載された。