# AIを応用した自動欠陥分類の開発｜レーザーテック（6920）の変遷

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## 経過

- FY2016 初出 「また、高精度高速ステージ開発のための精密機構技術、あるいは欠陥検出の画像処理技術などを継続的に深化させ、近年ではＡＩ（人工知能）技術を応用した自動欠陥分類の開発を進めるなど、お客様のニーズに対してタイムリーにソリューションを提供できる研究・製品開発を進めております。」 — 精密機構・画像処理を深化させ、AIによる自動欠陥分類の開発を進めている。 (https://komori.app/company/6920/filing/2015-fy)
- FY2017 再掲 「また高精度高速ステージ開発のための精密機構技術、あるいは欠陥検出の画像処理技術などを継続的に深化させ、近年ではＡＩ（人工知能）技術を応用した自動欠陥分類の開発を進めるなど、お客様のニーズに対してタイムリーにソリューションを提供できる研究・製品開発を進めております。」 — 精密機構・画像処理の深化とAIを応用した自動欠陥分類の開発を継続している。 (https://komori.app/company/6920/filing/2016-fy)
- FY2018 前進 「欠陥の分類には高速の処理コンピュータと、最新のディープラーニングを含む機械学習アルゴリズムによる学習モデルを使用し、前述のコア技術による高解像度レビュー画像に基づき、様々な不定形状の欠陥を検査と同時に高精度分類します。」 — AIを応用した自動欠陥分類について、GaNウェハ検査装置GALOISにディープラーニングを含む機械学習アルゴリズムを実装した。 (https://komori.app/company/6920/filing/2017-fy)
- FY2019 再掲 「また、高精度高速ステージ開発のための精密機構技術、あるいは欠陥検出の画像処理技術などを継続的に深化させ、近年ではＡＩ（人工知能）技術を応用した自動欠陥分類の開発を進めるなど、お客様のニーズに対してタイムリーにソリューションを提供できる研究・製品開発を進めております。」 — 精密機構・画像処理の深化とAIを応用した自動欠陥分類の開発を継続している。 (https://komori.app/company/6920/filing/2018-fy)
- FY2020 再掲 「また、高精度高速ステージ開発のための精密機構技術、あるいは欠陥検出の画像処理技術などを継続的に深化させ、近年ではＡＩ（人工知能）技術を応用した自動欠陥分類の開発を進めるなど、お客様のニーズに対してタイムリーにソリューションを提供できる研究・製品開発を進めています。」 — 精密機構・画像処理の深化とAIを応用した自動欠陥分類の開発を継続している。 (https://komori.app/company/6920/filing/2019-fy)
- FY2021 再掲 「また、高精度高速ステージ開発のための精密機構技術、あるいは欠陥検出の画像処理技術などを継続的に深化させ、近年ではＡＩ（人工知能）技術を応用した自動欠陥分類の開発を進めるなど、お客様のニーズに対してタイムリーにソリューションを提供できる研究・製品開発を進めています。」 — 精密機構・画像処理の深化とAIを応用した自動欠陥分類の開発を継続している。 (https://komori.app/company/6920/filing/2020-fy)
- FY2022 前進 「また、Deep Learningを用いたＡＩ検査技術により、高精度な画像分類や、パターン付き基板検査、特定種の欠陥抽出といった高度な検査機能も備えております。」 — AIを応用した自動欠陥分類について、OPTELICS AI²にDeep Learningによる画像分類・欠陥抽出機能を実装した。 (https://komori.app/company/6920/filing/2021-fy)
- FY2023 前進 「「ＣＩＥＬ」では、「ＥＺ３００」の光学系を一新して高感度・高スループット検査を実現しました。半導体デバイスの微細化や高積層化に伴い、ウェハエッジを発生源とする欠陥が増えており、さまざまな欠陥の中から歩留まりを低下させる欠陥のみを検出・分類したいというお客さまのご要望に応えた製品です。ディープラーニング技術を用いた高精度な欠陥分類と、独自光学系の３Ｄ機能によって高さ・深さ情報を含む高解像度画像の取得を可能とし、検出すべき欠陥を抽出する機能を充実させました。」 — AIによる自動欠陥分類について、CIELにディープラーニングによる高精度分類機能を実装し、3D画像情報を用いた欠陥抽出まで機能を拡張した。 (https://komori.app/company/6920/filing/2022-fy)
- FY2025 前進 「また、当社独自のディープラーニング技術を応用した高精度の欠陥分類・判定機能を備え、デバイス不良の原因となる欠陥の早期発見および解析も可能な装置です。」 — SICA108に独自のディープラーニング技術を応用した欠陥分類・判定機能を搭載し、AIによる欠陥検出・解析の適用範囲を拡張した。 (https://komori.app/company/6920/filing/2024-fy)
- FY2026 前進 「さらに、欠陥種別判定などの多様なアプリケーションを搭載しており、ペリクルメーカーやデバイスメーカーまで幅広くお使いいただくことで、CNTペリクルの品質管理に貢献する装置です。」 — PELMIS EPM200で付着異物の表裏自動分類や欠陥種別判定を実現し、AI・自動分類技術の適用範囲をペリクル品質管理へ広げた。 (https://komori.app/company/6920/filing/2025-fy)