# 高信頼VLSIシステムの実用化研究｜ＰＣＩソリューションズ（3918）の変遷

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## 経過

- FY2018 初出 「高信頼VLSIシステムの開発に取り組み、実用化に向けて180nm設計ルールでの試作開発及び評価を行ってまいりました。」 — IoT・自動運転等で使われるVLSIの故障予知・信頼性向上を目的に、DART技術の実用化、180nm設計ルールでの試作・評価、設計コンサルティング等の事業化を目指す研究を初めて独立したテーマとして記載している。 (https://komori.app/company/3918/filing/2017-fy)
- FY2019 前進 「さらには、微細化に伴ってＶＬＳＩの劣化故障へのリスクが高まっているため、40nm設計ルールにおいても試作開発及び評価を行っております。」 — 高信頼VLSIの研究で40nm設計ルールの試作・評価に進み、設計コンサルティング、受託設計、IP提供による社会実装も目指している。 (https://komori.app/company/3918/filing/2018-fy)
- FY2020 前進 「さらには、微細化に伴ってＶＬＳＩの劣化故障へのリスクが高まっているため、28nm設計ルールにおいても研究を進めております。」 — 高信頼VLSI研究が180nm・40nmの試作評価から28nm設計ルールへ広がり、AIチップへのDART技術実装やLSI特性モニタ回路の受託設計サービス受注など、実用化に向けた進展を記載した。 (https://komori.app/company/3918/filing/2019-fy)
- FY2021 再掲 「本研究開発の取り組み実績により、ＬＳＩ特性をモニターする回路の受託設計サービスが継続して受注できており、実用化に向けて推進しております。」 — DART技術を実装したチップ試作・評価と、LSI特性モニター回路の受託設計サービスを通じた実用化を継続している。 (https://komori.app/company/3918/filing/2020-fy)
- FY2022 前進 「これまでにIn chip sensor技術の一つでもあるＬＳＩの劣化検知に関する研究を行い、一定の成果を得ておりますが、一部機能を改善し、本研究開発ではデジタル温度電圧センサーの測定精度向上により技術価値の向上や劣化検出技術以外への適用範囲拡大等について取り組んでまいりました。」 — LSI劣化検知を含む高信頼半導体研究について、In chip sensorの機能改善、デジタル温度電圧センサーの測定精度向上、適用範囲拡大に取り組んだ。 (https://komori.app/company/3918/filing/2021-fy)